Trait de regard, retrait de garde – tracer sur l’image photographique
Le 27 mai de 07:00 à 16:00 – Saint-Denis en Seine-Saint-Denis (93)
Cette journée d’étude explore les liens entre dessin et photographie à travers des pratiques artistiques qui interviennent directement sur l’image photographique. Elle interroge le dessin sur photo sous deux angles : comme geste qui révèle la matérialité de l’image et remet en question son apparente neutralité, mais aussi comme expérience physique et cognitive engageant le corps, la perception et l’imagination de l’artiste. Chercheur·euses, artistes et critiques réfléchiront ensemble à la photographie comme espace d’inscription, de transformation et de négociation du réel. Conçue selon des méthodes de recherche par l’art, cette rencontre prendra la forme d’une exposition animée où œuvres, discussions et expérimentations feront de l’espace un terrain d’enquête collectif ouvert au public. Les discussions et analyses de cette journée d'études prolongeront les propositions de l'exposition « Eclipse » d'Anne Favier, présentée au Drawing Lab de Paris du 25 septembre 2026 au 3 janvier 2027. La journée d'étude est produite en collaboration avec la revue de dessin contemporain Roven, qui publiera un dossier thématique sur le sujet à l'automne 2027.
Responsable : J. Emil Sennewald
Source : OpenAgenda – Bicentenaire de la Photographie - 2026-2027
Quand ?
- Le 27 mai de 07:00 à 16:00
Où ?
2 rue de la Liberté, 93200 Saint-Denis, 93200 Saint-Denis
- Aujourd'hui à Saint-Denis
- Demain à Saint-Denis
- Cette semaine à Saint-Denis
- Ce week-end à Saint-Denis
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Venez découvrir Trait de regard, retrait de garde – tracer sur l’image photographique à Saint-Denis le 27 mai 2027 ! Une exposition à découvrir, ouverte à tous. Adresse : 2 rue de la Liberté, 93200 Saint-Denis.
